聚合物表面分析

ISBN: 9787502533977

作者: [美]布里格斯

出版社: 化学工业出版社

出版年: 2001年1月1日

页数: 197 页

定价: 19.0

装帧: 平装

译者: 曹立礼

内容简介

本书深入论述了X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）及其在聚合物材料研究中的应用。在聚合物表面的结构分析与特性研究，特别是解决工业研究中有关问题时，XPS和SSIMS普遍被认为是强有力的技术。随着过去十年仪器分析能力和数据阐释方面的飞速发展，该领域已经发展到有可能将这两方面的信息合并起来的阶段。本书中，作者叙述了XPS和SSIMS技术，并就各自可获得的住处类型分别作了解释。本书也