精密测控与系统

副标题: 精密测控与系统

ISBN: 9787302114604

作者: 董永贵

出版社: 清华大学出版社

出版年: 2005-9

页数: 389

定价: 38.00元

装帧: 简裝本

内容简介

本书以系统的观点，阐述了现代精密仪器设计中的控制理论、测试技术和设计方法。本书内容新颖、实用性强。

本书共分9章： 导论、系统的数学模型、传感器与测试系统、信号调理、图像处理技术、微弱信号检测技术、数字控制系统、计算机测控系统、现场总线技术与基于Internet的远程测控系统。

本书可供高等工科院校测控技术与仪器、电子精密机械、机电一体化及光学仪器等专业的师生使用，也可供从事精密仪器与机械及微纳米机电系统的研究、设计、制造、使用和调修的工程技术人员学习和参考。