当前位置：在线查询网 > 图书大全 > Angewandte Oberfl?chenanalyse mit SIMS Sekund?r-Ionen- Massenspektrometrie, AES Aufer-Elektronen-Spektrometrie, XPS, R?ntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Angewandte Oberfl?chenanalyse mit SIMS Sekund?r-Ionen- Massenspektrometrie, AES Aufer-Elektronen-Spektrometrie, XPS, R?ntgen-Photoelektronen-Spektrometrie_图书大全


请输入要查询的图书：

可以输入图书全称，关键词或ISBN号

Angewandte Oberfl?chenanalyse mit SIMS Sekund?r-Ionen- Massenspektrometrie, AES Aufer-Elektronen-Spektrometrie, XPS, R?ntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

ISBN: 9783540150503

出版社: Springer

出版年: 1986-6-13

页数: 300

定价: USD 210.95

装帧: Hardcover

关键词：Angewandte Oberfl ? chenanalyse mit SIMS Sekund ? r Ionen Massenspektrometrie AES Aufer Elektronen Spektrometrie XPS R ? ntgen Photoelektronen Spektrometrie